淺議回路電阻測試儀原理

回路電阻測試儀采用脈寬調制式高頻開(kāi)關(guān)電源提供大于100A的測試電流，當按下測量鍵時(shí)，高頻開(kāi)關(guān)電源輸出大于100A以上的測試電流，同時(shí)采樣電路開(kāi)始采樣，取得的信號經(jīng)放大器放大，由A/D轉換器將模擬信號轉換成數字信號后，再經(jīng)微處理器對數據進(jìn)行濾波、運算、處理，zui后送顯示器顯示出此次測量的電流和電阻值。顯示10秒鐘后，系統自動(dòng)復位。當被測的回路電阻值小于400μΩ時(shí)，測量的zui小分辨率為0.1μΩ，當被測的回路電阻值大于400μΩ時(shí)，測量的zui小分辨率為1μΩ。

阻抗分析儀IM3570特點(diǎn)
1.不同測量條件下，1臺進(jìn)行高速測量
測量電容等零部件時(shí)，有時(shí)在不同條件下(頻率、電平)測量多種測量項目，1條生產(chǎn)線(xiàn)中需要多臺測量?jì)x器。IM3570可再不同測量條件下進(jìn)行高速連續測量，1臺儀器即可滿(mǎn)足所有要求。
2. 檢查速度提高了2倍(跟以往型號相比)
和HIOKI的以往型號(3532-50)相比，大大縮短了測量時(shí)間。LCR模式下，以往機型一般需要5ms的測量時(shí)間，而IM3570的檢查速度提高了2倍。需要全數檢查電子零部件的生產(chǎn)線(xiàn)中，IM3570發(fā)揮了作用。
3. 測量的反復精度提高了1位(※1mΩ，100次測量時(shí))
功能性高分子電容在推進(jìn)低ESR化的同時(shí)，要求正確測量多個(gè)mΩ。IM3570在測量低阻抗時(shí)的精度比以往機型提高了1位，因此為用戶(hù)提供穩定測量。
4. 廣范圍的測量頻率
IM3570可在DC和4Hz～5Hz的范圍內設置5位分辨率的頻帶(1kHz以下為0.01Hz分辨率)?？稍诮咏舱耦l率的測量和工作條件的狀態(tài)下進(jìn)行測量和評價(jià)。
5. 15種測量參數
可測量Z、Y等15種參數，并將需要的參數讀取至計算機中。
6. 具備防止誤操作的接觸檢查功能
裝載了4端子測量、2端子測量的接觸檢查功能。防止在測量電極不接觸被測物的狀態(tài)下測量的情況，因此可以避免出現未檢查的產(chǎn)品出廠(chǎng)。
7. 廣范圍的測量電壓/電流
外加一般的開(kāi)路信號發(fā)生，可在恒壓/恒流模式下進(jìn)行考慮到電壓/電流依存性的測量?？稍O置廣范圍的、5mV～5V/10μA～50mA(～1MHz)以下的測量信號電平。
8. 測試線(xiàn)可延長(cháng)至4m