PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類(lèi)在高壓開(kāi)關(guān)柜局部放電檢測過(guò)程中,經(jīng)常會(huì )受到熱噪聲、系統白噪聲、電暈等多種干擾因素的影響,導致局部放電的檢測結果度降低。因此抗干擾十分關(guān)鍵,下面為大家介紹兩種高壓開(kāi)關(guān)柜局部放電檢測抗干擾技術(shù)。
一、小波變換技術(shù)分析
針對高壓開(kāi)關(guān)柜的局部放電現象的檢測過(guò)程中,經(jīng)常會(huì )受到熱噪聲、系統白噪聲、電暈等多種干擾因素的影響,導致局部放電的檢測結果度降低。為了防止這些問(wèn)題的出現,在高壓開(kāi)關(guān)柜局部放電的檢測期間,使用功能抗干擾技術(shù),對干擾源進(jìn)行有效的處理十分必要。小波變換作為一種非常重要的抗干擾技術(shù),同其他技術(shù)相比,其成熟度也比較高,已經(jīng)成為去除高壓開(kāi)關(guān)柜局部放電問(wèn)題檢測期間的噪聲因素影響的有效辦法?,F階段主要使用小波變換除噪聲法,其中包括了模極大值法這兩種。而闕值法應用起來(lái)較為簡(jiǎn)便,在噪聲取出工作中的適應能力*,使高壓開(kāi)關(guān)柜的局部放電問(wèn)題檢測更加順利和;由于模極大值法在實(shí)際應用過(guò)程中的程序較為復雜,所以此方法本身存在較大的信號重構誤差,并不常用。
二、 FFT變換與數學(xué)形態(tài)技術(shù)分析
一般情況下,此種方法主要適合在高壓開(kāi)關(guān)柜局部放電現象的檢測周期性窄帶干擾問(wèn)題的解決中,鑒于其自身具有較高的檢測效果。因此,在進(jìn)行高壓開(kāi)關(guān)柜局部放電問(wèn)題檢測過(guò)程,檢測人員需要先對信號展開(kāi)FET變換,以便能夠獲得信號頻譜的實(shí)際分布信息,然后再每個(gè)信號頻譜上設置出某一個(gè)門(mén)限值,將超出的門(mén)限值歸零,從而消除窄帶干擾問(wèn)題。因為FFT變換本身只能夠獲得頻域特征,無(wú)法獲得時(shí)域特征的相關(guān)信息,使得其在實(shí)際檢測中無(wú)法將高壓開(kāi)關(guān)柜的局部放電頻率的相關(guān)信息全面體現出來(lái),導致其不能有效處理非平穩信號。與此同時(shí),設定門(mén)限值是使用該方法進(jìn)行應用期間技術(shù)難點(diǎn),特別是在高壓開(kāi)關(guān)柜的局部放電現場(chǎng)進(jìn)行檢查。該技術(shù)方法在高壓開(kāi)關(guān)柜的局部放電問(wèn)題檢測中的應用范圍較為廣泛。
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